题型:单选题 试题题目:全面品牌管理的特点不包括( )。 A:全员 B:全过程 C:全方位 D:全要素 E: F: 答案:D
目标管理是在20世纪50年代由管理专家( )提出来的。
题型:单选题 试题题目:目标管理是在20世纪50年代由管理专家( )提出来的。 A:朱兰 B:休哈特 C:费根堡姆 D:德鲁克 E: F: 答案:D
对于一个稳定的分布为正态的生产过程,计算过程能力指数 C,=1.65,C=0.92。应该对生产过程作出下列判断()
题型:单选题 试题题目:对于一个稳定的分布为正态的生产过程,计算过程能力指数 C,=1.65,C=0.92。应该对生产过程作出下列判断() A:过程的均值偏离目标太远,且过程的标准差太大 B:过程的均值偏离目标太远,过程的标准差尚可 C:过程的均值偏离目标尚可,但过程的标准差太大 D:对于过程的均值偏离目标情况及过程的标准差不能作出判断 E: F: 答案:B
供应商提供的垫片厚度对产品质量特性的影响较大,垫片厚度的公差要求是12±1mm, 供应商提供的过程能力报告中说明: C,=1.33,C=1.00,对于垫片的生产过程可以得出结论()
题型:单选题 试题题目:供应商提供的垫片厚度对产品质量特性的影响较大,垫片厚度的公差要求是12±1mm, 供应商提供的过程能力报告中说明: C,=1.33,C=1.00,对于垫片的生产过程可以得出结论() A:平均值偏离目标大约0.25mm B:平均值偏离目标大约0.5mm C:平均值偏离目标大约0.75mm D:以上都不准确 E: F: 答案:A
控制图的上下控制限与上下公差限的关系是()
题型:单选题 试题题目:控制图的上下控制限与上下公差限的关系是() A:上下控制限的范围一定与上下公差限的范围相同 B:上下控制限的范围一定比上下公差限的范围宽 C:上下控制限的范围一定比上下公差限的范围窄 D:上下控制限的范围与上下公差限的范围是相互独立的 E: F: 答案:D
某工程师经过分析,选择使用Xbar-S 控制图进行过程控制,构造该控制图时正确的抽样方式是()
题型:单选题 试题题目:某工程师经过分析,选择使用Xbar-S 控制图进行过程控制,构造该控制图时正确的抽样方式是() A:以最方便的方式抽取子组,子组大小为10 B:在生产线上随机抽取子组,子组大小为5 C:按照生产次序抽取子组,子组大小为10 D:按照生产批次抽取,子组大小为5 E: F: 答案:C
普通因素通常引起过程随机波动,下面属于普通因素的是()
题型:单选题 试题题目:普通因素通常引起过程随机波动,下面属于普通因素的是() A:错误的工具 B:不适当的材料 C:机器的不适当调整 D:材料硬度的微小变化 E: F: 答案:D
常规控制图一般有8个判断异常的检验准则,假设每个检验的虚发警报概率都是0.27%,且每个虚发警报都是独立的,那么同时使用8个检验准则,则虚发警报的概率会增加至 ()
题型:单选题 试题题目:常规控制图一般有8个判断异常的检验准则,假设每个检验的虚发警报概率都是0.27%,且每个虚发警报都是独立的,那么同时使用8个检验准则,则虚发警报的概率会增加至 () A:0.50% B:1% C:2% D:3% E: F: 答案:C
企业准备采用控制图监控半导体的生产,每天统计报废产品数量,且每天产量变化,应使用的以下控制图是()
题型:单选题 试题题目:企业准备采用控制图监控半导体的生产,每天统计报废产品数量,且每天产量变化,应使用的以下控制图是() A:p图或np图 B:只能使用p 图 C:使用c图或u图 D:只能使用u图 E: F: 答案:B
绘制控制图时,确定合理子组的基本原则是()
题型:单选题 试题题目:绘制控制图时,确定合理子组的基本原则是() A:子组大小最好应控制在6以下 B:组内波动应大于组间波动 C:子组内应不存在差异 D:子组内的波动应由随机因素导致 E: F: 答案:D